TMT4 PCIE容限測(cè)試儀

TMT4 PCIE容限測(cè)試儀

作為一款專(zhuān)用的發(fā)送/接收 (Tx/Rx) 通道裕度測(cè)試工具，泰克 TMT4 使您能夠在數(shù)分鐘內(nèi)（而不是數(shù)天內(nèi)）輕松評(píng)估 PCIe® 第 3 代和第 4 代設(shè)計(jì)的鏈路運(yùn)行狀況。作為被測(cè)設(shè)備 (DUT) 的有源鏈路伙伴，該儀器可以通過(guò)協(xié)議控制presset，并快速顯示眼圖及其相關(guān)鏈路訓(xùn)練參數(shù)，從而深入了解每條lane或每個(gè)preset的潛在設(shè)計(jì)缺陷。 PCIE® 和 PCI Express® 是 PCI-SIG 的注冊(cè)商標(biāo)和/或服務(wù)標(biāo)志。

TMT4 PCIE容限測(cè)試儀在短短 2 分鐘內(nèi)即可完成 PCIe 鏈路運(yùn)行狀況評(píng)估

PCIe 測(cè)試工具，與眾不同

泰克 TMT4 容限測(cè)試儀是同類(lèi)產(chǎn)品中專(zhuān)業(yè)級(jí) PCIe 測(cè)試工具，可快速輕松地評(píng)估 PCIe Gen 3 (8 GT/s) 和 Gen 4 (16 Gt/s) 設(shè)備的鏈路運(yùn)行狀況。它支持 CEM、M.2、U.2 和 U.3 等最常見(jiàn)的 PCIe 形狀因數(shù)，能夠與當(dāng)今可用的大多數(shù) PCIe 設(shè)備進(jìn)行連接。

借助支持 PCIe 的 16 通道高密度線(xiàn)纜和連接器，該容限測(cè)試儀可在數(shù)秒內(nèi)經(jīng)過(guò)適配后測(cè)試系統(tǒng)板或擴(kuò)展卡。在短短 2 分鐘內(nèi)即可完成 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設(shè)備的發(fā)射器和接收器鏈路運(yùn)行狀況的評(píng)估。它確實(shí)獨(dú)樹(shù)一幟。

TMT4 容限測(cè)試儀重構(gòu)了 PCIe 鏈路運(yùn)行狀況的測(cè)試方式。作為被測(cè)設(shè)備 (DUT) 的有源鏈路助手，該儀器能夠直接控制 DUT 的預(yù)設(shè)和鏈路訓(xùn)練參數(shù)，從而可逐個(gè)通道或逐個(gè)預(yù)設(shè)深入了解潛在的設(shè)計(jì)缺陷。評(píng)估 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設(shè)備的鏈路運(yùn)行狀況從未如此簡(jiǎn)單。

是時(shí)候深入了解并輕松使用泰克的前沿創(chuàng)新技術(shù)

TMT4 容限測(cè)試儀專(zhuān)為現(xiàn)代工程師而設(shè)計(jì)。如今，過(guò)長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間和復(fù)雜的設(shè)備設(shè)置通常會(huì)導(dǎo)致設(shè)計(jì)和驗(yàn)證工程師遇到測(cè)試瓶頸。TMT4 在設(shè)計(jì)時(shí)充分考慮了這兩個(gè)挑戰(zhàn)，并對(duì)測(cè)試時(shí)間和易用性給出了相應(yīng)的解決方案。

TMT4 在短短 5 分鐘內(nèi)即可完成設(shè)置并準(zhǔn)備好測(cè)試，而優(yōu)化的用戶(hù)界面使測(cè)試變得比以往更輕松。借助這些改進(jìn)，泰克在評(píng)估 PCIe Gen 3 和 Gen 4 設(shè)備的鏈路運(yùn)行狀況方面充分響應(yīng)了現(xiàn)代工程師的需求。

主要功能

·       支持的 PCIe Gen 3 (8 GT/s) 和 Gen 4 (16 Gt/s) 速度

·       支持多達(dá) 16 條通道的鏈路帶寬

·       支持 CEM、M.2、U.2 和 U.3 設(shè)備

·       兩種掃描選項(xiàng)：快速掃描和自定義掃描

·       為每個(gè)測(cè)試的通道提供 DUT 發(fā)射器 (Tx) 眼圖和鏈路訓(xùn)練參數(shù)

·       為每個(gè)測(cè)試的通道提供 DUT 功能接收器 (Rx) 評(píng)估

適合多種 PCIe 設(shè)備的適配器和線(xiàn)纜

TMT4 容限測(cè)試儀平臺(tái)支持 11 種標(biāo)準(zhǔn) PCIe 適配器，可用于測(cè)試系統(tǒng)板和擴(kuò)展卡。這使用戶(hù)可以測(cè)試各種可能的 DUT，并可評(píng)估最常見(jiàn)的 PC 組件，如主板、顯卡和 SSD，這是連接和測(cè)試 PCIe 設(shè)備的一種簡(jiǎn)單方法。

除了 M.2 Edge（具有可適應(yīng)特定損耗條件的集成線(xiàn)纜）之外，所有適配器均可使用標(biāo)準(zhǔn) 16 通道高密度線(xiàn)纜輕松互換。這為用戶(hù)提供了在數(shù)秒內(nèi)輕松切換 PCIe 形狀因數(shù)的靈活性，并可最大限度地減少測(cè)試之間的停機(jī)時(shí)間。

測(cè)試 DUT 發(fā)射器的信號(hào)路徑從未如此簡(jiǎn)單

DUT 發(fā)射器 (Tx) 測(cè)試經(jīng)過(guò)優(yōu)化，只需幾分鐘便可讓您深入了解 DUT 發(fā)射器路徑性能。對(duì)于當(dāng)今的工程師而言，評(píng)估其 DUT 的全鏈路帶寬 Tx 性能通常需要數(shù)天甚至數(shù)周的時(shí)間。借助 TMT4 容限測(cè)試儀，可以在短短 2 分鐘內(nèi)完成 Gen 4 設(shè)備的高級(jí)鏈路運(yùn)行狀況評(píng)估。

此測(cè)試讓用戶(hù)可以快速查看容限測(cè)試儀與 DUT 之間鏈路的眼圖，并顯示用于張開(kāi)眼圖的相關(guān)鏈路訓(xùn)練參數(shù)。這些信息使團(tuán)隊(duì)能夠?qū)︽溌愤M(jìn)行更頻繁的性能檢查，并快速識(shí)別任何通道和預(yù)設(shè)組合的總誤差。

這對(duì)于設(shè)計(jì)和驗(yàn)證工程師尤其有用，因?yàn)樗麄兺ǔ?huì)因傳統(tǒng)示波器和 BERT 測(cè)試設(shè)備的測(cè)試時(shí)間漫長(zhǎng)而遇到瓶頸。例如，如果工程師想要快速查看 BIOS 更改對(duì)鏈路運(yùn)行狀況的影響，他們可以?huà)呙?DUT、更新 BIOS、再次掃描 DUT，并在幾分鐘內(nèi)評(píng)估這些更改對(duì)鏈路性能的影響。

比以往更快的眼圖

作為 DUT Tx 測(cè)試的一部分，向用戶(hù)顯示每個(gè)通道/預(yù)設(shè)組合的眼圖，這些眼圖表示 DUT 和容限測(cè)試儀之間鏈路的無(wú)差錯(cuò)區(qū)域。

容限測(cè)試儀的主要優(yōu)點(diǎn)是用戶(hù)可以極快速度生成這些眼圖。由于是向用戶(hù)實(shí)時(shí)顯示眼圖，因此只需幾秒鐘便可顯示結(jié)果。這種極速大大縮短了深入了解 DUT 鏈路運(yùn)行狀況的時(shí)間。隨著工程師面臨的產(chǎn)品快速上市壓力不斷增加，容限測(cè)試儀將以速度為設(shè)計(jì)和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)提供深入見(jiàn)解。

鏈路訓(xùn)練參數(shù)：眼圖并非總能反映性能全貌

容限測(cè)試儀不僅可通過(guò)顯示眼圖來(lái)顯示鏈路的性能，還能顯示如何調(diào)整容限測(cè)試儀的接收器來(lái)充分利用生成的眼圖。掌握這兩項(xiàng)信息對(duì)于了解鏈路性能至關(guān)重要，因?yàn)橛行┭蹐D可能需要特別高水平的均衡才能形成鏈路。在向用戶(hù)顯示的表格中，容限測(cè)試儀顯示衰減、VGA（增益）、CTLE 和 5 個(gè) DFE 抽頭值，這些參數(shù)可用于充分張開(kāi)眼圖。使用此功能，用戶(hù)可以快速查看所顯示的每個(gè)眼圖需要的均衡程度。下表顯示了每個(gè)均衡設(shè)置的可能取值范圍。

通過(guò)查看這些設(shè)置，工程師不僅能夠通過(guò)眼圖快速了解其鏈路的性能，還能更加深入地了解用于張開(kāi)眼圖的均衡設(shè)置。如果眼圖張開(kāi)很大，但均衡設(shè)置被推至最大值，則可能表明給定的通道和預(yù)設(shè)組合存在一些性能注意事項(xiàng)。眼圖本身并非總能反映性能全貌。

DUT 接收器 (Rx) 測(cè)試功能是對(duì) DUT 接收器路徑進(jìn)行功能評(píng)估。該測(cè)試旨在確定在操作范圍內(nèi)從容限測(cè)試儀發(fā)射的信號(hào)在返回錯(cuò)誤之前的衰減程度。這使工程師能夠在短短 30 秒內(nèi)輕松評(píng)估功能性 Rx 鏈路的運(yùn)行狀況，與現(xiàn)有設(shè)備相比，節(jié)省了寶貴的時(shí)間和精力。

此快速測(cè)試包括容限測(cè)試儀和 DUT 之間的鏈路，其中 DUT 選擇用于通信的預(yù)設(shè)。然后，容限測(cè)試儀通過(guò)在預(yù)期操作范圍內(nèi)按通道/預(yù)設(shè)減少主光標(biāo)值來(lái)逐步降低發(fā)射振幅。

使用此方法，用戶(hù)可以在不到一分鐘的時(shí)間內(nèi)獲得對(duì)其 Rx 性能的高級(jí)評(píng)估，并確定是否存在任何值得使用其他設(shè)備進(jìn)一步調(diào)查的通道問(wèn)題。如果未指示錯(cuò)誤，這將被視為功能合格。如果發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，則會(huì)向用戶(hù)顯示發(fā)生錯(cuò)誤的主光標(biāo)值，并將該測(cè)試結(jié)果視為功能性故障。

多種掃描選項(xiàng)

TMT4 提供兩種掃描選項(xiàng)：快速掃描和自定義掃描。兩種掃描類(lèi)型均包括 DUT Tx 和 DUT Rx 測(cè)試，可以利用相同的物理設(shè)置運(yùn)行掃描，但允許用戶(hù)進(jìn)行不同級(jí)別的控制。每種掃描選項(xiàng)都有其自身的優(yōu)勢(shì)。

快速掃描：最快的鏈路運(yùn)行狀況評(píng)估選項(xiàng)

快速掃描是速度最快的選項(xiàng)，用戶(hù)幾乎不用控制特定的測(cè)試參數(shù)。該掃描可指示 DUT 和容限測(cè)試儀之間的鏈路在 DUT 的速度和最大帶寬下經(jīng)過(guò)自然鏈路訓(xùn)練后的運(yùn)行狀況，最高可評(píng)估 Gen 4 x16。

此測(cè)試能夠在整個(gè)設(shè)計(jì)過(guò)程中經(jīng)過(guò)自然鏈路協(xié)商后更頻繁地評(píng)估鏈路的運(yùn)行狀況，以查看物理層、固件和 BIOS 設(shè)置隨著時(shí)間推移發(fā)生變化的一般趨勢(shì)。掃描結(jié)果包括從每個(gè)訓(xùn)練通道到協(xié)商預(yù)設(shè)的眼圖、相關(guān)鏈路訓(xùn)練參數(shù)和功能性 Rx 測(cè)試，所有這些均可在幾分鐘內(nèi)完成。與通常設(shè)置傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備相比，這使用戶(hù)能夠以更快的速度評(píng)估其 DUT 與 TMT4 之間鏈路的運(yùn)行狀況。

Gen 4 x16 鏈路的大約測(cè)試時(shí)間：2-4 分鐘

自定義掃描：全面的鏈路運(yùn)行狀況評(píng)估選項(xiàng)

自定義掃描在測(cè)試方面為用戶(hù)提供更大的靈活性，并使用戶(hù)能夠具體的測(cè)試參數(shù)以對(duì)其 Tx 信號(hào)路徑進(jìn)行評(píng)估。在自定義掃描中，用戶(hù)可以選擇：

·       代數(shù)（PCIe Gen 3 或 Gen 4）

·       通道（在鏈路帶寬內(nèi)）

·       預(yù)設(shè)（預(yù)設(shè) 0 – 預(yù)設(shè) 9）

·       時(shí)鐘設(shè)置（SSC 或 SRI）

·       通過(guò)/失敗限值（用戶(hù)定義）

自定義掃描用于以下情況：需要深入調(diào)查特定的通道/預(yù)設(shè)組合，或需要對(duì)所有通道和預(yù)設(shè)進(jìn)行更全面的測(cè)試。用戶(hù)可以自己的通過(guò)/失敗限值，容限測(cè)試儀將標(biāo)記超出這些限值的任何結(jié)果。

自定義掃描的結(jié)果與快速掃描的結(jié)果不同。在自定義掃描中，結(jié)果分層結(jié)構(gòu)允許根據(jù)所測(cè)試的代數(shù)或代數(shù)中的測(cè)試類(lèi)型來(lái)展開(kāi)和折疊數(shù)據(jù)。Tx 眼圖和鏈路訓(xùn)練參數(shù)表結(jié)果均可配置為按測(cè)試的通道或測(cè)試的預(yù)設(shè)查看。這使用戶(hù)能夠在 30 分鐘內(nèi)快速查看所有圖表的結(jié)果，并就任何給定通道或預(yù)設(shè)組合（最多 160 個(gè)通道/預(yù)設(shè)組合）的性能得出結(jié)論。

針對(duì) Gen 4 x16 所有通道/預(yù)設(shè)的大約測(cè)試時(shí)間：25-30 分鐘

輕松保存和調(diào)用結(jié)果

可將任何掃描的結(jié)果快速輕松地保存至 .zip 文件中。所有表格數(shù)據(jù)（如鏈路訓(xùn)練參數(shù)和原始眼圖測(cè)量值）均可保存為 .csv 文件，眼圖圖像保存為 .png 文件。

用戶(hù)界面選項(xiàng)范圍

可通過(guò)三個(gè)單獨(dú)的用戶(hù)界面控制 TMT4 容限測(cè)試儀：前面板 UI、Web 瀏覽器 UI 或 REST API。Web 瀏覽器和 REST API 均可讓用戶(hù)遠(yuǎn)程控制儀器。

前面板 UI：快速開(kāi)始測(cè)試

前面板用戶(hù)界面僅供快速使用，它能夠運(yùn)行快速掃描、查看結(jié)果、導(dǎo)出數(shù)據(jù)以及訪(fǎng)問(wèn)設(shè)備的 IP 地址。為了能夠運(yùn)行自定義掃描，用戶(hù)必須通過(guò) REST API 使用 Web 瀏覽器用戶(hù)界面或編程界面。

Web 瀏覽器 UI：支持遠(yuǎn)程使用，用戶(hù)控制更出色

基于 Web 的瀏覽器界面適合那些希望訪(fǎng)問(wèn)更多容限測(cè)試儀功能（相比前面板訪(fǎng)問(wèn)）的用戶(hù)。通過(guò)此界面，用戶(hù)可以訪(fǎng)問(wèn)快速掃描和自定義掃描、保存/調(diào)用結(jié)果和輔助功能菜單，以查看固件版本和導(dǎo)出錯(cuò)誤日志；所有這些功能均可通過(guò)直觀(guān)、易用的 Web UI 來(lái)實(shí)現(xiàn)。

要訪(fǎng)問(wèn)基于 Web 的瀏覽器界面，用戶(hù)必須通過(guò)儀器背面的以太網(wǎng)端口將容限測(cè)試儀連接至本地網(wǎng)絡(luò)或點(diǎn)對(duì)點(diǎn)連接至 PC。容限測(cè)試儀具有專(zhuān)用 IP 地址（連接至本地網(wǎng)絡(luò)或 PC 后可配置該地址），允許用戶(hù)通過(guò)將容限測(cè)試儀上顯示的 IP 地址輸入支持的 Web 瀏覽器（包括 Google Chrome、Firefox 和 Microsoft Edge）來(lái)連接至 UI。

可編程 REST API：遠(yuǎn)程使用和自動(dòng)化

容限測(cè)試儀還支持通過(guò) REST API 進(jìn)行編程控制。API 允許用戶(hù)選擇合適的編程語(yǔ)言，非常適合工程師在自動(dòng)化應(yīng)用中使用。

TMT4 容限測(cè)試儀用戶(hù)手冊(cè)中提供了如何使用 REST API 的文檔。

DUT 要求

為了使容限測(cè)試儀成功掃描 DUT，DUT 必須支持一組較低要求。這些要求包括：

·       DUT 必須能夠在 Gen 3 (8 GT/s) 和/或 Gen 4 (16 Gt/s) 速度下達(dá)到 L0 狀態(tài)。

·       DUT 必須支持 PCIe 協(xié)議并能夠處理 PERST（重置）信號(hào)。

·       必須將鏈路訓(xùn)練為至少 x1 帶寬。

·       要測(cè)試的選定通道必須在當(dāng)前鏈路帶寬范圍內(nèi)。

·       DUT 必須能夠通過(guò)協(xié)議強(qiáng)制進(jìn)入不同的 Tx 預(yù)設(shè)。

·       DUT 必須能夠自控返回到 L0 狀態(tài)，無(wú)需人工干預(yù)。

·       如果需要，擴(kuò)展卡必須支持自身功率超過(guò) 75 W。TMT4 為 AIC 提供高達(dá) 75 W 的功率。

·       必須將端點(diǎn) DUT 配置為擴(kuò)展卡，必須將根端口 DUT 配置為系統(tǒng)板。

·       DUT 必須從容限測(cè)試儀中選擇標(biāo)準(zhǔn) PCIe 預(yù)設(shè) (0-9) 才能執(zhí)行 Rx 測(cè)試。