致茂局部放電測(cè)試器MODEL 19501-K Chroma 致茂局部放電測(cè)試器MODEL 19501-K內(nèi)建交流耐電壓測(cè)試(Hipot Test)與局部放電(Partial D i s c h a rge, PD)偵測(cè)功能于一單機(jī),提供交流電壓輸出0 . 1 k V~10k V, 漏電流測(cè)量范圍0.01μ A~300μA, 局部放電偵測(cè)范圍1pC~2000pC,針對(duì)高壓半導(dǎo)體組件與高絕緣材料測(cè)試應(yīng)用所設(shè)計(jì)與開(kāi)發(fā)。
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更新日期
2024-03-06 - 02
廠商性質(zhì)
經(jīng)銷(xiāo)商 - 03
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